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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
作者
Sheldon Tan / Mehdi Tahoori / Taeyoung Kim / Shengcheng Wang / Zeyu Sun / Saman Kiamehr
出版Springer Nature, 2019-09-12
ISBN
9783030261726 / 3030261727
主題
Technology & Engineering
2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS).
出版2023
ISBN
9798350346305
Testing FPGAs
作者
Mehdi Baradaran Tahoori
出版2003
ISBN
OCLC:78995274
Towards Temporal Information Processing - Printed ...
作者
Haibin Zhao / Priyanjana Pal / Michael Hefenbrock / Michael Beigl / Mehdi Baradaran Tahoori
出版2023
ISBN
OCLC:1416144775
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
作者
Sheldon Tan / Mehdi Tahoori / Taeyoung Kim / Shengcheng Wang / Zeyu Sun / Saman Kiamehr
出版Springer Nature, 2019-09-12
ISBN
9783030261726 / 3030261727
主題
Technology & Engineering