登入選單
Google圖書搜尋
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized L...
作者
Pierre-Richard Dahoo / Philippe Pougnet / Abdelkhalak El Hami
出版John Wiley & Sons, 2016-08-16
ISBN
9781119329688 / 111932968X
主題
Technology & Engineering
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
作者
Pierre-Richard Dahoo / Philippe Pougnet / Abdelkhalak El Hami
出版John Wiley & Sons, 2021-01-14
ISBN
9781119808145 / 1119808146
主題
Technology & Engineering
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2
作者
Pierre-Richard Dahoo / Philippe Pougnet / Abdelkhalak El Hami
出版John Wiley & Sons, 2021-03-05
ISBN
9781119818960 / 1119818966
主題
Science
Infrared Spectroscopy of Triatomics for Space Obse...
作者
Pierre-Richard Dahoo / Azzedine Lakhlifi
出版John Wiley & Sons, 2019-01-03
ISBN
9781119579243 / 1119579244
主題
Science
Infrared Spectroscopy of Symmetric and Spherical S...
作者
Pierre-Richard Dahoo / Azzedine Lakhlifi
出版John Wiley & Sons, 2021-03-31
ISBN
9781119824084 / 1119824087
主題
Science
Infrared Spectroscopy of Symmetric and Spherical T...
作者
Pierre-Richard Dahoo / Azzedine Lakhlifi
出版John Wiley & Sons, 2021-09-15
ISBN
9781119865971 / 1119865972
主題
Science
Infrared Spectroscopy of Diatomics for Space Obser...
作者
Pierre-Richard Dahoo / Azzedine Lakhlifi
出版John Wiley & Sons, 2018-01-03
ISBN
9781786301161 / 1786301164
主題
Science
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized L...
作者
Pierre-Richard Dahoo / Philippe Pougnet / Abdelkhalak El Hami
出版John Wiley & Sons, 2016-08-16
ISBN
9781119329657 / 1119329655
主題
Technology & Engineering
Infrared Spectroscopy of Triatomics for Space Obse...
作者
Pierre-Richard Dahoo / Azzedine Lakhlifi
出版John Wiley & Sons, 2019-01-03
ISBN
9781119579243 / 1119579244
主題
Science
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2
作者
Pierre-Richard Dahoo / Philippe Pougnet / Abdelkhalak El Hami
出版John Wiley & Sons, 2021-04-14
ISBN
9781119818977 / 1119818974
主題
Science
Infrared Spectroscopy of Diatomics for Space Obser...
作者
Pierre-Richard Dahoo / Azzedine Lakhlifi
出版John Wiley & Sons, 2018-01-03
ISBN
9781786301161 / 1786301164
主題
Science
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
作者
Pierre-Richard Dahoo / Philippe Pougnet / Abdelkhalak El Hami
出版John Wiley & Sons, 2021-01-07
ISBN
9781119808220 / 1119808227
主題
Technology & Engineering
Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polari...
作者
Pierre Richard Dahoo / Philippe Pougnet / Abdelkhalak El Hami
出版ISTE Group, 2016-07-01
ISBN
9781784051655 / 1784051659
主題
Nanostructured materials