登入選單

返回Google圖書搜尋

CMOS Circuit Design and Test Patterns for Built-in Overcurrent Testing

Gesellschaft für Mathematik und DatenverarbeitungHeinrich Theodor Vierhaus

出版	GMD, 1993
URL	http://books.google.com.hk/books?id=G_s4HQAACAAJ&hl=&source=gbs_api