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Étude des propriétés de transport dans des couches de silicium désordonnées par implantation ionique à forte dose
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influence du recuit thermique
出版1986
URLhttp://books.google.com.hk/books?id=KMo2uAAACAAJ&hl=&source=gbs_api
註釋Des mesures d'effet hall en fonction de la temperature et de la frequence. Effet de la temperature de recuit sur les coefficients de transport electronique. Les mecanismes de collision sont modifies pour des temperatures de recuit superieures a 500-600**(o)c. Interpretation des resultats par des modeles bases sur l'ordre a courte et longue portee.