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Simulation of Complex Scan Paths for 3D Reconstruction

Carsten BellonChristian GollwitzerDaniel FratzscherUwe EwertGerd-Rüdiger Jaenisch

出版	Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), 2015
URL	http://books.google.com.hk/books?id=zcnHzQEACAAJ&hl=&source=gbs_api